HS2048高分辨光纤光谱仪
- 产品详情
HS2048 是一款结构小巧的微型光纤光谱仪，光谱范围可灵活配置，核心优势突出 —— 高分辨率达～0.07nm，杂散光低于 0.1%，波长温漂仅～0.1pixel/℃。适配激光测量、等离子体发射光谱测量、颜色测量、吸光度测量和拉曼测量等多个工业现场场景，是高性价比的工业级光纤光谱仪。
核心产品规格
关键配置
- • 低杂散光设计：采用优质光学元器件、特殊消光工艺及优化光路，杂散光低至 0.1% 以下，提升光谱纯度与检测精度；
- • 超高分辨率：搭载传统长焦 CT 光路，配合精密光学设计与高性能光栅，分辨率可达 0.07nm；
- • 低温漂稳定：波长温漂～0.1pixel/℃，减少环境温度对检测结果的影响；
- • 紫外响应优异：配备紫外高灵敏检测器，输出低噪声、高信噪比的准确光谱信号，适配高精度分析；
- • 光纤适配性强：可搭配多芯密排集束光纤，光纤插拔强度一致性≤7%；
- • 低噪表现：CCD 量化背景噪声≤30RMS（最短积分时间）；
- • 接口完备：配置 USB2.0、RS232 通讯接口及 24PIN 交互接口，内置专有 DAC 和 ADC，可实现配套光源的使能、强度控制及功率反馈；
- • 采集模式多样：支持单次、连续、软件触发、同步外触发、异步复位外触发。
详细参数表
| 参数类别 | 具体指标 |
|---|---|
| 产品型号 | HS2048 |
| 光纤接口 | Key-SMA905 |
| 像元通道数 | 2048 |
| 杂散光 | <0.1% |
| 波长温漂 | ~0.1pixel/℃ |
| 光纤插拔一致性 | ≤7% |
| AD 采样 | 16 bit |
| 数据接口 | USB2.0、RS232 |
| 扩展功能接口 | 24PIN |
| 采集模式 | 单次、连续、软件触发、同步外触发、异步复位外触发 |
| 检测器积分时间 | 60us-65s |
| 外触发时延准确性 | 10 ns |
| CCD 读出噪声（最小积分时间，均方根） | ≤30 RMS |
| CCD 动态范围（最小积分时间，(饱和值 - 暗噪基线)/CCD 读出噪声标准差） | 3000:1 |
| 信噪比 | 380:1 |
| 响应线性度（校准前） | ≥98% |
| 物理参数 | |
| 重量 | 260g |
| 工作温度 | 0℃~40℃ |
| 工作湿度 | 20%-85% |
产品配置表
| 规格型号 | 起始波长（nm） | 截止波长（nm） | 光谱分辨率（nm）@不同狭缝宽度 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 10um | 25um | 50um | 100um | 200um | |||
| HS2048-200-800 | 200 | 800 | 0.90 | 1.00 | 1.40 | 2.40 | 3.50 |
| HS2048-350-940 | 350 | 940 | 0.80 | 1.00 | 1.50 | 2.40 | 3.60 |
| HS2048-200-1100 | 200 | 1100 | 1.00 | 1.80 | - | 3.00 | 4.20 |
| HS2048-350-1050 | 350 | 1050 | 0.90 | 1.00 | 1.60 | 2.80 | 4.00 |
定制说明
- • 光谱实际分辨率不高于标值的 120%；
- • 光谱范围、分辨率等参数可根据客户实际应用场景定制。
- • 光谱实际分辨率不高于标值的 120%
- • 光谱仪可根据客户需求定制光谱范围、分辨率等参数
主要应用领域
光谱仪测激光器线宽
激光器线宽是描述激光器性能的重要参数，是指激光器输出的激光频率的宽度。线宽越窄，激光的单色性越好，频率稳定性越高。我们可以使用光谱仪来测量激光器的线宽，适用于激光器生产厂家、科研场所等。
激光波长测量图谱
半导体刻蚀终点判断
光谱仪在半导体刻蚀工艺中用于终点判断，通过实时监测等离子体刻蚀过程中产生 的光谱信号变化，识别不同材料层的特征辐射峰。当光谱信号中的特征峰强度或位置发生预定变化时，系统判定刻蚀达到终点。这种方法具备高精度、实时性和非接触性。广泛应用于半导体制造中的多层结构刻蚀控制。
再结晶钨在气体为 He、0.1 Pa、700W、250V 条件下钨粒子的发射光谱
膜厚测量
基于光的干涉原理，当光照射到薄膜上时，部分光会在膜的上下界面发生反射和透射，形成干涉条纹。通过测量薄膜在不同波长下的反射或透射光谱，分析干涉条纹的频率和幅度变化，可以计算出薄膜的厚度。
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火焰光谱检测
在紫外 - 可见 - 近红外内实现光强探测，可获取火焰在特定平面的相对光强和光谱分布。
火焰光谱检测