基于C-MOSI的红外辐射源,TO46型带反射器,开放式

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描述

JSIR340-4型经济实惠的红外辐射源专为NDIR气体分析和其他红外测量应用而优化,如直接红外光谱法、衰减全反射光谱法或光声光谱法。基于CMOS的红外辐射源的膜片可达到高达800°C的温度。它能够为工业应用提供长期稳定的辐射输出,用于在环境温度为-20至85°C之间控制和监测过程气体。

硅滤波器优化了从紫外到15.5微米波长范围内的辐射输出。

作为SMD封装,JSIR340特别适合自动拾放装配和大批量生产。

我们红外辐射源中使用的MEMS芯片包含一个多层热板膜片,内含一个高温稳定的金属CMOSI层。发射器芯片的有效面积为2.2 x 2.2平方毫米,基于硅衬底并采用背刻蚀膜技术。所有薄膜工艺均采用标准MEMS工艺和CMOS兼容材料完成。活性C-MOSI电阻层免受老化和环境影响。

应用

非色散红外气体检测

衰减全反射光谱法

直接红外光谱法

光声光谱法

目标气体

二氧化碳(CO2)

甲烷(CH4)

丙烷(C3H8)

乙醇(C2H5OH)

其他红外活性气体

特点

成本效益高的组件

标准MEMS技术

CMOS兼容制造工艺

有效的自动化装配工艺,采用SMD封装

热板温度高达740°C

适当的辐射输出

由于热质量低,调制深度高

技术参数


技术参数

TO39 open

SMD Si ARC

单位

光谱输出范围

2 ... 15

2 ... 15

μm

有效面积

2.2 x 2.2

2.2 x 2.2

mm²

耐热1

19 ± 5

17 ± 5

Ω

温度系数2

typ. 1 200

typ. 1 000

ppm/K

时间常数0-63%

typ. 13

typ. 11.5

ms

标称功耗3

650

650

mW

工作电压4

typ. 3.5

typ. 3.3

V

工作电流4

typ. 180

typ. 200

mA

推荐驱动模式

Power mode

Power mode


活动区域温度1,5,6

600 ± 30

500 ± 30

°C

窗口

open

Si ARC


外壳

TO39

SMD


预计使用寿命7,8

> 5 000 h at 740 °C

> 100 000 h at 600 °C

> 5 000 h at 640 °C

> 100 000 h at 500 °C


绝对**额定值




输入功率3,5

1 000

1 000

mW

外壳温度8

200

200

°C

活动区域温度

740

640

°C


1. 额定功率下的单位

2. 25°C - 700°C

3. 功率开启状态

4. 带有25Ω热电阻

5. 环境温度为25°C时

6. 通过红外相机(0.7-1.1μm)测量的热点温度降低10%后的温度分布平均值

7. 连续模式下,平均无故障时间(MTTF)为63%(膜断裂,基于阿伦尼乌斯定律的计算值)

8. 包括环境温度

典型操作特性

电气示意图

电路

等效电路图

机械制图

TO39底部

SMD底部

截面图-TO39 reflector open

截面图-SMD with filter

产品概述


型号

类型

填充气体

最低温度

最高温度

光圈

窗口

JSIR340-4-AL-R-D6.0-0-0

TO39 with reflector

None

-20 °C

180 °C

6.0 mm

Open

JSIR340-4-CB-0-S5.0-Air-A7

SMD

None

-20 °C

85 °C

5.0 x 5.0 mm²

Si ARC