多模光纤跳线，弱自发荧光

产品详情

特性

弱自发荧光*(AF)多模光纤跳线：

纤芯Ø200 µm或Ø400 µm
数值孔径0.50

非常适合具有GFP(激发波长470 nm)和RFP(激发波长565 nm)的光纤光度学应用
工作波长范围*(点击查看曲线图)：300 - 1200 nm
接头选项：

带样品的一端为2.0 mm窄键FC/PC接头、Ø1.25 mm(LC)插芯或Ø2.5 mm(FC)插芯
不带样品的一端为2.0 mm窄键FC/PC接头

黑色护套**程度地减少光泄漏
跳线长度1 m
可根据要求定制跳线

这些多模光纤跳线采用可减少发出可见光波段自发荧光的元件制造，非常适用于光纤光度学应用。在这些应用中，需要高灵敏度来测量指示样本内神经活动的荧光的变化。这些跳线的设计基于对裸纤、插芯类型和环氧树脂等跳线组件自发荧光特性的广泛研究。

每根跳线集成了纤芯Ø200 µm或Ø400 µm、数值孔径0.50的多模光纤(分别为FP200URT和FP400URT)，并具有三种接头配置。跳线的一端为2.0 mm窄键FC/PC接头，而另一端则为2.0 mm窄键FC/PC接头、Ø1.25 mm不锈钢插芯或Ø2.5 mm不锈钢插芯。与我们标准的光遗传学光纤跳线相似，带插芯端的跳线可以通过互连件或匹配套管接合光纤针头；请看下方的选择指南了解兼容的产品。

每根跳线都带有两个保护帽，防止插芯端在不使用时受到灰尘污染或其他伤害。其他用于接头和插芯端的塑料保护帽、金属保护帽或螺纹保护帽都在这里单独出售。如果使用过程中光纤终端受到污染，我们也提供检查工具和光纤清洁用品。

光漂白

为了在实验过程中获得**性能，弱自发荧光跳线在使用前应进行光漂白测试。该过程使光纤和跳线组件中的荧光团饱和，从而**限度地减少自发荧光的发射。因为自发荧光最终会在光漂白后恢复到稳态值(如右图所示)，每次在实验中使用跳线时都应重复此过程。有关所需设备和测试过程的更多信息，请看光漂白标签。

在产品测试过程中，我们比较了弱自发荧光跳线与标准跳线的自发荧光恢复能力。右图显示了在36天的时间内测得的每个测试跳线相对于输出功率的自发荧光。我们观察到，弱自发荧光跳线经过光漂白后具有较低的自发荧光比率，并且在测试期间，自发荧光恢复较慢。

匹配套管和跳线兼容性

跳线和针头的插芯直径紧密关系到互连件和匹配套管的兼容性。使用Ø1.25 mm(LC)插芯的针头和跳线可以通过ADAL1匹配套管或ADAL3互连件连接。使用Ø2.5 mm(FC)插芯的跳线和针头兼容ADAF1匹配套管和ADAF2互连件。

*在470 nm和565 nm的激发波长下测试并验证弱自发荧光。其他波长下激发时性能可能不同。这些跳线可在指定的300 - 1200 nm波长范围内传输光。

经过12小时的470 nm光漂白之后，弱自发荧光(AF)跳线和标准跳线的自发荧光恢复比较图。使用旧款M470F3 LED进行激发，并测量525 nm下相对于跳线输出功率的自发荧光强度。

光漂白过程示例

光纤光度实验测量经过基因改良的细胞发出的荧光，用作神经活动的标志。为了达到分辨荧光发射的微小变化所需的灵敏度，必须**程度地减少其他光源(例如光学跳线)的噪声。光纤光度实验中最常见的荧光团是绿色荧光蛋白(GFP)，激发波长在470 nm附近。

光漂白是样品或材料中的荧光团在激发波长下被光饱和的过程。这种技术用于在光纤光度实验之前减少光纤跳线中发射的自发荧光。我们建议用户在每次实验前对光纤跳线进行光漂白。以下步骤详细说明了使用的一般过程：

选择一款光纤耦合LED，波长与实验相匹配，且输出功率合适。
将弱荧光跳线连接到LED，并覆盖光纤输出，以减少光纤射出的杂散光量。
将LED输出功率设置为**值。
让跳线至少连续曝光8小时；这个时间可能因波长和LED输出功率而有所差异。

图片展现了光漂白弱自发荧光跳线的装置。

自发荧光测量测试装置

Thorlabs在性能测试中测量这些跳线在470 nm激发波长下发出的自发荧光。使用的实验装置如下图所示；点击图片下方的链接，查看用于在470 nm激发和525 nm下测量自发荧光的元件清单。

在这个装置中，DFM1二向色滤光片立方配有光纤准直器和成像滤光片，可将光引导至弱自发荧光光纤跳线并引导从跳线发出的光。光纤耦合LED的激发光经二向色立方引导至弱自发荧光光纤跳线，该跳线没有盖，且并射入空气中。跳线中525 nm的自发荧光发射光通过光纤和二向色滤光片耦合到S130C探测器。

利用这种装置，我们测量了光漂白过程中相对于输出功率的自发荧光(左下图)，以及光漂白后自发荧光的恢复(右下图)。我们观察到，彻夜曝光(> 8小时)显著减少了跳线的自发荧光，且弱自发荧光光纤跳线的恢复速度比标准跳线的慢。

470 nm激发波长下自发荧光测量装置的示意图。此装置使用了我们旧款的M470F3光纤耦合LED。

自发荧光(525 nm)与470 nm光漂白时间的关系图。相对于贴片电缆的输出功率测量525nm处的自发荧光强度。光漂白和测量的测试设置如右图所示。

经过470 nm的光漂白12小时后，弱自发荧光(AF)跳线和标准跳线自发荧光的恢复比较图。相对于标准跳线的输出功率测量525 nm处的自发荧光强度。测量的测试设置如右侧所示。