定标镜台测微分划板
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定标镜台测微分划板
本产品有一系列的“H”形基准图象，尺寸从0.1到20mm, 采用耐磨的镀铬膜层，OD光密度> 2.0，基底材料为25 x 75 x 1.4mm，可用NIST追踪码查询测试数据。
Pattern Length (mm) | Pattern Height (mm) | Line Width (μm) |
0.10, 0.25, 0.50, 0.75 | 0.50 | 10 |
1.00, 2.50, 5.00, 7.50 | 1.00 | 20 |
10.0, 15.0, 20.0 | 3.00 | 40 |
订购信息：
Reticle Calibration Stage Micrometer
库存#59-280技术参数与相关资料
尺寸 (mm) | 25 W x 75 L x 1.4 T |
光密度 OD | >2.0 |
Pattern Length (mm) | 0.1 - 20.0 |
基底 | Durable Chromium Coating on Glass |
RoHS | 符合标准 |
Reticle Calibration Stage Micrometer, NIST traceable
库存#59-281技术参数与相关资料
尺寸 (mm) | 25 W x 75 L x 1.4 T |
光密度 OD | >2.0 |
Pattern Length (mm) | 0.1 - 20.0 |
基底 | Durable Chromium Coating on Glass |
RoHS | 符合标准 |