平场凹面光栅

SSI 的平场成像凹面光栅具有既不平行也不等距的凹槽。这种类型的凹面光栅旨在**限度地减少散光和彗差。这使得像差校正凹面光栅非常适合与平面阵列检测器(例如光电二极管阵列 (PDA))或二维阵列检测器(例如电荷耦合器件 (CCD) 检测器)一起使用。光栅的成像特性还意味着多个源(例如光纤输入)可以同时成像到入口狭缝上,并且每个信号分别读取到 2D 探测器或多个堆叠阵列探测器上。
SSI 是世界上少数能够制造高质量闪耀全息凹面光栅的公司之一。我们的专有技术使我们能够在不进行离子蚀刻的情况下以光学方式闪耀凹面光栅,从而实现高峰值效率和低杂散光

型号 | 164-1500-045 |
产品描述 | 164 g/mm, 1500nm Flat Field Concave Grating |
凹槽密度 (g/mm) | 164 |
色散 (nm/mm) | 32 |
闪耀波长 (nm) | 1500 |
波长范围 (nm) | 100 - 1900 |
Spectrum Length频谱长度 (mm) | 25 |
Lα (mm) | 99 |
F Nbr | 2.6 |
直径(mm) | 45 |
货期 | 2-4 Wks |
效率曲线 | |
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型号 | 378-215-034 |
产品描述 | 378 g/mm, 215nm Flat Field Concave Grating |
凹槽密度 (g/mm) | 378 |
色散 (nm/mm) | 24.1 |
闪耀波长 (nm) | 215 |
波长范围 (nm) | 190-800 |
Spectrum Length频谱长度 (mm) | 25 |
Lα (mm) | 97.9 |
F Nbr | 3.8 |
直径(mm) | 34 |
货期 | 2-4 Wks |
效率曲线 | |
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型号 | 406-150-034 |
产品描述 | 406 g/mm, 250nm Flat Field Concave Grating |
凹槽密度 (g/mm) | 406 |
色散 (nm/mm) | 24.4 |
闪耀波长 (nm) | 300 |
波长范围 (nm) | 190-800 |
Spectrum Length频谱长度 (mm) | 24.9 |
Lα (mm) | 86.1 |
F Nbr | 2.2 |
直径(mm) | 34 |
货期 | 2-4 Wks |
型号 | 470-250-040A |
产品描述 | 470 g/mm, 250nm Flat Field Concave Grating |
凹槽密度 (g/mm) | 470 |
色散 (nm/mm) | 21.3 |
闪耀波长 (nm) | 250 |
波长范围 (nm) | 190-850 |
Spectrum Length频谱长度 (mm) | 27.88 |
Lα (mm) | 75.86 |
F Nbr | 2 |
直径(mm) | 40 |
货期 | 2-4 Wks |
效率曲线 | |
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型号 | 470-250-040B |
产品描述 | 470 g/mm, 250nm Flat Field Concave Grating |
凹槽密度 (g/mm) | 470 |
色散 (nm/mm) | 22.6 |
闪耀波长 (nm) | 250 |
波长范围 (nm) | 250-900 |
Spectrum Length频谱长度 (mm) | 27.88 |
Lα (mm) | 75.86 |
F Nbr | 2 |
直径(mm) | 40 |
货期 | 2-4 Wks |
效率曲线 | |
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型号 | 719-900-030 |
产品描述 | 719 g/mm, 900nm Flat Field Concave Grating |
凹槽密度 (g/mm) | 719 |
色散 (nm/mm) | 16 |
闪耀波长 (nm) | 900 |
波长范围 (nm) | 700-1100 |
Spectrum Length频谱长度 (mm) | 25 |
Lα (mm) | 100 |
F Nbr | 3.5 |
直径(mm) | 30 |
货期 | 2-4 Wks |
效率曲线 | |
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型号 | 954-300-030 |
产品描述 | 954 g/mm, 300nm Flat Field Concave Grating |
凹槽密度 (g/mm) | 954 |
色散 (nm/mm) | 12.2 |
闪耀波长 (nm) | 300 |
波长范围 (nm) | 340 - 800 |
Spectrum Length频谱长度 (mm) | 38 |
Lα (mm) | 55 |
F Nbr | 2 |
直径(mm) | 30 |
货期 | 2-4 Wks |
效率曲线 | |
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