ARS2000 角分辨光谱仪是一款可变角度透反射便携式现场测量光纤光谱仪，核心用于满足纳米光学材料及光学元器件的精准检测需求。它可实现光子晶体、超导材料等的反射率、透射率、吸收测量，助力晶体能带与缺陷特性研究；同时适配薄膜材料、玻璃、光学元器件等的特定角度透反射过程控制测量，实用性广泛。

仪器配套手动式透反射测量支架，覆盖350nm~1050nm 光谱波段，支持 0°~120° 入射角度、8°~180° 接收角度的透射、反射及辐射光谱测量。内部集成 ARM 嵌入式系统与 Uspectral Plus 软件，可实现在线测量；同时配置 Windows 软件，满足专业光谱分析需求，操作灵活便捷。

核心特点

• • 功能专业：全面覆盖辐射、透射、反射、散射等多种检测需求，适配不同材料测试场景。
• • 使用便捷：体积小巧、性能稳定，易维护、易存放、易操作，适配现场测量需求。
• • 软件强大：配套功能完备的专业软件包，同时支持嵌入式在线测量与 Windows 系统光谱分析。
• • 存储灵活：可通过 USB 接口及时存储测量数据，保障数据不丢失。

产品规格参数

应用领域

• • 纳米光学材料研究：适用于光子晶体、超导材料等的反射率、透射率、吸收测量，助力晶体能带、缺陷等特性研究。
• • 多场景材料测试：适配镀膜材料、液晶显示、传感器器件制备、角度材料相关分析等领域。
• • 光学元器件检测：用于薄膜材料、玻璃、光学元器件等特定角度下透过率、反射率的过程控制测量。