EKSMA 平面平晶
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描述
- 参考表面平面度：λ/20
- 非常适合测试和评估其他光学元件
光学平面用于测试和评估其他光学元件。在平面与被测物体之间的空气中会形成干涉图样，该图样通常通过平面观察比通过物体观察更清晰。该图样由明暗相间的条纹组成，这些条纹是空气薄膜厚度的等高线图。如果光学元件的表面明显比被测表面更平整，则可以将干涉图样直接解读为被测表面的等高线图。
如果将平面放置在被测物体的上方，并通过平面观察干涉图样，则在平面的上表面（即不接触被测物体的表面）镀上增透膜会更有利。
光学平面可以提供镀膜产品。如果您希望订购带镀膜的光学平面，请在您的 询价单 中注明平面型号代码和镀膜代码。如需合适的增透膜，请参阅 镀膜 部分。
技术规格
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 材料 | 紫外熔石英 |
| 直径公差 | +0.00, -0.12 mm |
| 第 1 面平面度： | λ / 20 @ 633 nm |
| 第二面平面度： | 2 λ @ 633 nm |
| 厚度公差 | ±0.2 mm |
订购型号 (variants)
| SKU | 名称(中文) | 规格 |
|---|---|---|
| 230-1208E | 光学平晶，Ø25.4 mm，CT=8.0 mm | 直径 D=ø 25.4 mm; 厚度 T=8.0 mm |
| 230-1208M | 光学平晶，Ø25.0 mm，CT=8.0 mm | 直径 D=ø 25.0 mm; 厚度 T=8.0 mm |
| 230-1410E | 光学平晶，Ø38.1 mm，CT=10.0 mm | 直径 D=ø 38.1 mm; 厚度 T=10.0 mm |
| 230-1410M | 光学平晶，Ø40.0 mm，CT=10.0 mm | 直径 D=ø 40.0 mm; 厚度 T=10.0 mm |